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德国NUMERIK JENA光栅尺 LIA20-N501WA
德国NUMERIK JENA光栅尺公司介绍
德国NUMERIK JENA成立于1970年，在测量系统的开发、制造和销售方面拥有 40 多年的经验。生产计量学及其制造精密秤的相关技术的根源可以追溯到卡尔蔡司和恩斯特阿贝。重点是国际市场的需求，由于我们产品的模块化特性，我们可以灵活应对。
NUMERIK JENA开发、生产和销售具有分辨率和精度的位移、位置和角度检测测量系统。产品不仅因其特别小的尺寸而令人印象深刻，而且由于其多功能性还可以普遍使用。
德国NUMERIK JENA光栅尺工作原理及参数技术：
光栅尺 LIA20系列将精度和易用性结合在一个设备中。凭借其集成的2场EPIFLEX传感器模块，它也适用于更粗糙的应用。使用EPIFLEX传感器模块（2场扫描）；可单独配置；1 Vpp或RS 422输出信号；比较多100次信号插值；比较小的测量步长为50纳米；行走速度可达10 m / s（1 Vpp）；由于2场扫描，对污染的敏感性降低；由于多种安装可能性，安装灵活。
德国NUMERIK JENA光栅尺 LIA20-N501WA由于插值电路，集成在一个15针D-sub连接器或扫描头，分辨率降低到50纳米，可以没有任何额外的电子产品；允许的运行速度为正弦信号，输出达10米/秒；均方输出的0.1微米的分辨率波信号可为1.6米/秒的允许运行速度。短距离的位置误差（插值误差）通过引入振幅的电子补偿和偏移粗信号偏差均显著降低。这种补偿功能，在所有速度范围内可避免错误。
德国NUMERIK JENA光栅尺 LIA20-N501WA详细参数
扫描头尺寸：34*13.2*12.4mm
扫描头重量：≤20g
扫描频率：比较大500kHz
电源电压：5 V±10％
输出接口
电压输出：1 VPP（15针D-Sub）
方波输出：RS422，插值可达100次（15针D-Sub）
电缆：
允许弯曲半径：
偶尔弯曲~8毫米
恒定弯曲~40毫米
德国NUMERIK JENA光栅尺 LIA20-N501WA应用领域：
半导体行业的生产和检测设备；
线性单位和线性驱动器；阶段；
测量仪器和测量显微镜；机器人；
精密设备复印；
精密加工机；
定位和测量在医疗保障的干预
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